Agilent 4155C半导体参数分析仪主要适用于先进半导体器件表征的实验室场景，可用于测量半导体器件和材料的直流参数（如电压、电流等）。其支持通过41501B Expander扩展测量范围至1A/200V，并可添加低噪声接地单元、双脉冲发生器等模块，进一步满足多端器件、多通道测量需求，还能配合LCR表完成电容-电压特性（CV）测量，或结合脉冲发生器、示波器进行脉冲电压电流（Pulsed IV）测量等。

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