Agilent 4155C作为一款经济高效、精确的半导体参数分析仪，主要应用于实验室环境下的高级半导体器件表征，具体场景包括：1. 半导体器件及材料的直流参数全自动高速测量，支持10 fA（飞安）级电流和0.2 mV（毫伏）级电压的高分辨率测量；2. 准静态电容电压（QSCV）测试、应力模式测试、旋钮扫描及待机功能等特殊测试场景；3. 搭配可选41501B扩展器后，可扩展至±200V电压和±1A电流的大功率测量，并支持脉冲发生器功能；4. 通过Desktop EasyEXPERT软件实现PC端GUI控制、离线数据分析及应用测试开发，适用于半导体研发与测试的全流程需求。

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