Agilent 4155C是一款经济高效的半导体参数分析仪，主要功能包括：可用于半导体器件（如p-n结、晶体管、场效应管等）的I-V、C-V特征曲线测量及薄膜方块电阻等参数测试；具备4个中功率源/监视单元（SMU）、2个电压源单元（VSU）和2个电压监视单元（VMU），测量分辨率可达10 fA和0.2 mV；支持前面板直接操作，可通过Desktop Easy EXPERT软件进行PC端控制；可选配41501B扩展器，扩展至±200V和±1A大功率SMU及脉冲发生器功能，并支持测试数据列表、绘图等分析功能。

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