Agilent 4155C 半导体参数分析仪是一款经济高效、适用于先进器件表征的实验室用台式解决方案，可满足绝大多数参数表征需要。主要用于测量半导体电子元器件（如pn结、晶体管等），其41501B扩展器可将测量范围扩展至1A/200V，并为设备添加低噪声接地单元和双脉冲发生器，是实验室进行器件表征的常用工具。

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